Colloque international sur la compatibilité électromagnétique

›9:10 (20min)

Cérémonie d'ouverture

› amphi1+amphi2

9:10 - 9:30 (20min)

Cérémonie d'ouverture

amphi1+amphi2

›9:30 (1h)

Séance plenière

› amphi1+amphi2

9:30 - 10:30 (1h)

Séance plenière

amphi1+amphi2

›10:30 (20min)

Pause

10:30 - 10:50 (20min)

Pause

›10:50 (1h30)

1. CEM des transports : automobile, aéronautique, ferroviaire
Junwu Tao

› amphi 1

10:50 - 12:20 (1h30)

1. CEM des transports : automobile, aéronautique, ferroviaire

amphi 1

Junwu Tao

› Identification des Défauts Non Francs dans un Réseau Filaire Ramifié par Réflectométrie Distribuée et Algorithme Génétique Multi-Objectif - Ousama OSMAN, WIN MS 10:50-11:20 (30min)

› TEST « VIRTUEL » D'INTEGRITE DE SIGNAL SUR DES CABLES BLINDES OU NON BLINDES EN CHAMBRE REVERBERANTE - Sahand RASM, Technocentre Renault, XLIM - Guillaume Andrieu, XLIM - Remi Tumayan, Technocentre Renault - Alain REINEIX, XLIM 11:20-11:50 (30min)

› DESCRIPTION D'UNE METHODE EXPERIMENTALE PERMETTANT DE QUALIFIER LES SEUILS DE SENSIBILITE DES RECEPTEURS FM EN PRESENCE D'INTERFERENCES PAR VOIE RAYONNEE - Abdivall maouloud, Institut National des Sciences Appliquées - Rennes, Stellantis - Marco Klingler, Stellantis - Philippe Besnier, Institut National des Sciences Appliquées - Rennes 11:50-12:20 (30min)

›10:50 (1h30)

18. CEM et cybersécurité
Philippe Benech

› amphi 2

10:50 - 12:20 (1h30)

18. CEM et cybersécurité

amphi 2

Philippe Benech

› Application du modèle de couplages aléatoires pour l'évaluation de probabilités d'occurrence de courants induits - Valentin Houchouas, Sorbonne Université, Agence nationale de la sécurité des systèmes d'information (ANSSI) 10:50-11:20 (30min)

› Détection d'attaques par signal de brouillage et identification de son éloignement - jonathan villain, LEOST 11:20-11:50 (30min)

› CLONER UNE FONCTION PHYSIQUE NON CLONABLE PAR L'ANALYSE DE SON RAYONNEMENT ELECTROMAGNETIQUE - Lilian Bossuet, Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne] 11:50-12:20 (30min)

›12:20 (1h20)

Pause déjeuner

12:20 - 13:40 (1h20)

Pause déjeuner

›13:40 (20min)

Présentation Rohde-Schwarz

› amphi1+amphi2

13:40 - 14:00 (20min)

Présentation Rohde-Schwarz

amphi1+amphi2

›14:00 (1h30)

3. CEM en électronique de puissance
Francois Costa

› amphi 1

14:00 - 15:30 (1h30)

3. CEM en électronique de puissance

amphi 1

Francois Costa

› Méthode de détermination des capacités parasites des bobines toriques nanocristallins - Florentin Salomez, Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance - ULR 2697 14:00-14:30 (30min)

› MISE EN OEUVRE D'ANTENNES INTEGREES POUR LA MESURE CHAMP PROCHE DANS LES MODULES D'ELECTRONIQUE DE PUISSANCE - Paul-Etienne VIDAL, Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tarbes, Laboratoire Génie de Production 14:30-15:00 (30min)

› REDUCTION DES PERTURBATIONS CONDUITES DU HACHEUR PAR L'OPTIMISATION DE SON ROUTAGE - wided belloumi, Ampère, University of Sousse, LATIS 15:00-15:30 (30min)

›14:00 (1h)

18. CEM et cybersécurité
Francoise Paladian

› amphi 2

14:00 - 15:00 (1h)

18. CEM et cybersécurité

amphi 2

Francoise Paladian

› EM Injection Vs. Modern CPU Fault Characterization And AES Differential Fault Analysis - Guillaume BOUFFARD, Information Security Group, Laboratoire Sécurité des Composants 14:00-14:30 (30min)

› Out-of-band 60 GHz vulnerability of front-ends and FPGA using near-field injection - Jérémy Raoult, Institut d'Electronique et des Systèmes 14:30-15:00 (30min)

›15:00 (30min)

14. Perturbations transitoires : foudre, ESD …
Francoise Paladian

› amphi 2

15:00 - 15:30 (30min)

14. Perturbations transitoires : foudre, ESD …

amphi 2

Francoise Paladian

› MODELISATION DE LA SUSCEPTIBLITE DES ETAGES D'ENTREE D'ALIMENTATIONS LORS DE L'INJECTION D'UN FORT COURANT - Laurine CUROS, Laboratoire IMS, CEA – Gramat 15:00-15:30 (30min)

›15:30 (20min)

Pause

15:30 - 15:50 (20min)

Pause

›15:50 (1h30)

3. CEM en électronique de puissance
Christian Vollaire

› amphi 1

15:50 - 17:20 (1h30)

3. CEM en électronique de puissance

amphi 1

Christian Vollaire

› ETUDE EXPERIMENTALE DE LA CEM DES DRIVERS D'UN DEMI-PONT AVEC MOSFET SIC ET IGBT - Hadiseh GERAMIRAD, SuperGrid Institute 15:50-16:20 (30min)

› L'impact des tests de vieillissement accélérés en court-circuit sur les perturbations électromagnétiques conduites du MOSFET SiC dans un convertisseur statique abaisseur - Chawki douzi, Laboratory of Advanced Technology and Intelligent Systems, Ecole Nationale dÍngénieurs de Sousse, Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués, École Supérieure d'Ingénieurs en Génie Électrique 16:20-16:50 (30min)

› Analyse des perturbations conduites d'un convertisseur HF DC-DC sur substrat SMI - amina GAHFIF, Safran Tech 16:50-17:20 (30min)

›15:50 (1h30)

14. Perturbations transitoires : foudre, ESD …
Arnaud Bréard

› amphi 2

15:50 - 17:20 (1h30)

14. Perturbations transitoires : foudre, ESD …

amphi 2

Arnaud Bréard

› Eléments de modélisation de la foudre sur les bâtiments – partie 1 : modélisation circuit d'un bâtiment soumis a une onde plane - Alexandre Laisné, DGA - Techniques aéronautiques 15:50-16:20 (30min)

› Eléments de modélisation de la foudre sur les bâtiments – partie 2 : simulation numérique 3D d'un bâtiment soumis à une onde plane - Alexandre Laisné, DGA - Techniques aéronautiques 16:20-16:50 (30min)

› Eléments de modélisation de la foudre sur les bâtiments – partie 3 : simulation numérique 3D d'un bâtiment soumis à un impact direct et à une boucle d'injection - Alexandre Laisné, DGA - Techniques aéronautiques 16:50-17:20 (30min)